ODM型高精度光延時測量儀采用微波光子學測量方法，可實現光纖長度等延時參數的精確測量。較傳統的OTDR技術、色散測量技術，能成倍提升測量精度。本測量儀具有測量精度高、測量長度大、測量速度快、操作簡便等優點。適用于高精度光纖傳感、光子雷達等領域的精準延時測量。

ODM型高精度光延時測量儀的反射式工作模式，僅需一個端口連接待測光纖即可實時顯示測量結果，測量準確。本儀器同時支持兩端口直通測量，并可按客戶需求進行硬件和軟件上的定制服務。

• 產品特點

?   支持反射式測量與直通式測量，精度低至0.1mm，測量長度可達5km；

?   1310nm/1550nm測量波長可調，支持商用多波段測量；

?   測量速度快，接入即可自動測出長度，極大節約時間；

?   可定制化的光纖連接器，適用于各種應用場合；

?   折射率可校準，支持多種折射率光纖精確延時測量；

?   可導出數據，便于后期處理；

產品應用：

?    光纖干涉器：精確測量光纖干涉器的臂差；

?    光控相控陣雷達；精確控制雷達陣元光延時；

?    光纖通信：精確測量通信系統中的信號延時；

?    光纖陀螺：精確測量陀螺光纖延時；

?    其他領域：其他需要精確測量光路延時的場合。